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LEO ZEISS Rasterelektronenmikroskop

Hier bieten wir ihnen ein Rasterelektronenmikroskop mit Röntgenmikroanalyse an.

Rasterelektronenmikroskop mit Röntgenmikroanalyse LEO 1450VP der Firma Zeiss.

Rasterelektronenmikroskope (REM) von ZEISS liefern Oberflächeninformationen in hoher Auflösung und einen hervorragenden Materialkontrast.

Sie werden eingesetzt in Materialanalysen, Nanotechnologie, Halbleiter-Fehleranalysen, Life Sciences und Qualitätssicherung.

TECHNISCHE DATEN:

Hersteller:LEO / ZEISS
Modell:1450VP
Kategorie: Rasterelektronenmikroskop
Ausstattungsmerkmale:
Rasterelektronenmikroskop (REM)
W-Kathode
1-30kV Spannung
3,5nm Auflösung
1pA-1μA Strahlstrom
Rückstreudetektor(BSE)
Niedervakuumdetektor(VPSE)
Mit der modularen Röntgenquelle iMOXS SEM IfG Modular X-ray MCBM 50-0,6B
Modi mit variablem Druck und Hochdruck
van der Heijden Kühler
Pumpe: EDWARDS RV12 Roary-Pumpe
Titan-DIG MV Framegrabber
PCB, CPL Bühnensteuerung
6-Achsen mit Programm
EO-Vorstand
PCB-Netz

EDAX:
10 mm² Detektorfläche
125 eV Energieauflösung
15 Arbeitsabstand

Spannunng: LEO 1450VP 1/N/PE 208…240V 50…60 HZ max. 16A

Betriebssystem: Windows 7 u. Smart SEM Software

Erweitert umgerüstet:
Mit der modularen Röntgenquelle iMOXS SEM

Mit der modularen Röntgenquelle iMOXS (IfG Modular X-ray Source) erweitern Sie ganz einfach die Funktionen Ihres Rasterelektronenmikroskops (REM).

iMOXS nutzt den vorhandenen Detektor des Elektronenmikroskops und kann durch den gewählten Flansch mit geringem Aufwand mit allen gängigen REM-Typen kombiniert werden.

Zwischen der Elektronenquelle des REM und der zusätzlichen Röntgenquelle können Sie Proben mit Röntgenfluoreszenzanalyse und Elektronenstrahlmikroanalyse mit einem einzigen Gerät untersuchen.

Indem Sie die Vorteile beider Methoden nutzen, können Sie Elemente in kleinen Konzentrationen mit sehr hoher Auflösung nachweisen.

Anwendungen:

SEM-Mapping: schneller Überblick über die elementare Zusammensetzung einer Probe; findet Elemente, die dem SEM verborgen sind
Fehleranalyse, Prüfung auf Materialversagen und Materialermüdung
Materialanalyse direkt im REM, zum Beispiel Bestimmung der Si- und Zn-Anteile in Aluminiumlegierungen
Forensische Analysen
Nachweis von Spurenelementen im ppm-Bereich
Erkennung schwerer Elemente (Z > 18)

LEO ZEISS Rasterelektronenmikroskop REM 1450VP mit Röntgenquelle iMOXS

LEO ZEISS Rasterelektronenmikroskop

Hier bieten wir ihnen ein Rasterelektronenmikroskop mit Röntgenmikroanalyse an.

Rasterelektronenmikroskop mit Röntgenmikroanalyse LEO 1450VP der Firma Zeiss.

Rasterelektronenmikroskope (REM) von ZEISS liefern Oberflächeninformationen in hoher Auflösung und einen hervorragenden Materialkontrast.

Sie werden eingesetzt in Materialanalysen, Nanotechnologie, Halbleiter-Fehleranalysen, Life Sciences und Qualitätssicherung.

TECHNISCHE DATEN:

Erweitert umgerüstet:
Mit der modularen Röntgenquelle iMOXS SEM

Mit der modularen Röntgenquelle iMOXS (IfG Modular X-ray Source) erweitern Sie ganz einfach die Funktionen Ihres Rasterelektronenmikroskops (REM).

iMOXS nutzt den vorhandenen Detektor des Elektronenmikroskops und kann durch den gewählten Flansch mit geringem Aufwand mit allen gängigen REM-Typen kombiniert werden.

Zwischen der Elektronenquelle des REM und der zusätzlichen Röntgenquelle können Sie Proben mit Röntgenfluoreszenzanalyse und Elektronenstrahlmikroanalyse mit einem einzigen Gerät untersuchen.

Indem Sie die Vorteile beider Methoden nutzen, können Sie Elemente in kleinen Konzentrationen mit sehr hoher Auflösung nachweisen.

Anwendungen:

Stage: 5 Achsen, motorisiert

(x,y,z, Drehung, Kippung)

Typ: LEO 1450VP

Zustand: gebraucht / used

Lieferumfang: LEO 1450VP,Vakuumpumpe,Monitore,PC,Tastatur,Software Dokumente

(Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!)

Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.

Rasterelektronenmikroskope

LEO ZEISS Rasterelektronenmikroskop REM 1450VP mit Röntgenquelle iMOXS

LEO ZEISS Rasterelektronenmikroskop

Hier bieten wir ihnen ein Rasterelektronenmikroskop mit Röntgenmikroanalyse an.

Rasterelektronenmikroskop mit Röntgenmikroanalyse LEO 1450VP der Firma Zeiss.

Rasterelektronenmikroskope (REM) von ZEISS liefern Oberflächeninformationen in hoher Auflösung und einen hervorragenden Materialkontrast.

Sie werden eingesetzt in Materialanalysen, Nanotechnologie, Halbleiter-Fehleranalysen, Life Sciences und Qualitätssicherung.

TECHNISCHE DATEN:

Erweitert umgerüstet:Mit der modularen Röntgenquelle iMOXS SEM

Mit der modularen Röntgenquelle iMOXS (IfG Modular X-ray Source) erweitern Sie ganz einfach die Funktionen Ihres Rasterelektronenmikroskops (REM).

iMOXS nutzt den vorhandenen Detektor des Elektronenmikroskops und kann durch den gewählten Flansch mit geringem Aufwand mit allen gängigen REM-Typen kombiniert werden.

Zwischen der Elektronenquelle des REM und der zusätzlichen Röntgenquelle können Sie Proben mit Röntgenfluoreszenzanalyse und Elektronenstrahlmikroanalyse mit einem einzigen Gerät untersuchen.

Indem Sie die Vorteile beider Methoden nutzen, können Sie Elemente in kleinen Konzentrationen mit sehr hoher Auflösung nachweisen.

Anwendungen:

Stage: 5 Achsen, motorisiert

(x,y,z, Drehung, Kippung)

Typ: LEO 1450VP

Zustand: gebraucht / used

Lieferumfang: LEO 1450VP,Vakuumpumpe,Monitore,PC,Tastatur,Software Dokumente

(Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!)

Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.

Rasterelektronenmikroskope

Erweitert umgerüstet:
Mit der modularen Röntgenquelle iMOXS SEM