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Jeol Rasterelektronenmikroskop (PC-SEM) JSM-6490 Bruker XFlash Detektor

Art.-ID: 23543

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Jeol Rasterelektronenmikroskop

Hier bieten wir Ihnen ein Jeol Rasterelektronenmikroskop an.
Jeol JSM-6490 Rasterelektronenmikroskop (PC-SEM)
Modernes, hochauflösendes, digitales Rasterelektronenmikroskop
mit neuentwickelter Elektronenoptik und intuitiver,
graphischer Benutzeroberfläche (GUI) unter Microsoft WindowsXP Professional.
Geräteausstattung einschließlich folgender Ausstattungsmerkmale:
Vergrößerungsbereich: 5 X - 300.000 X
Beschleunigungsspannung 0.3 - 30 kV
Wolframhaarnadel-Kathode (LaB6-Kathode optional)
großer vollmotorisierter Probentisch mit euzentrlscher
Kippung, inkl.
Graphische Navigation auf dem Probenhalter
Einfache Probennavigation durch Click-Center-Zoom
Bildfeldgesteuerte Navigation Ober 2 Navigatoren
Relative Koordinaten-Navigation
Speichern und Wiederanfahren von Probenpositionen
Einstellbares blldausschnittswelses Verfahren der Pro-
benbUhne
Blldfeldkorrektur während der Rotation Uber rechner-
gesteuerte euzentrische Rotation
Bildfeldkorrektur während der KIppung Uber rechner-
gesteuerte euzentrische Kippung
Berechnung des möglichen Kippwinkels anhand der
Probengeometrie
automatische Fokus-NachfUhrung bei Verfahren der
Probe in Z-Rlchtung
Intelligente Limitschalter für die motorisierten Achsen
Verfahrweg Probentisch:
x=125mm
Y=100mm
z = 5 bis 80 mm (stuienlos)
T = -10°C bis+ 90°C
R= 360°C (endlos)
Sekundärelektronen-Detektor für Hochvakuumbetrieb
Neuartige, superkonische Objektivlinse garantiert höchte
Bildauflösung auch bei großen Kippwinkeln
Garantierte Auflösung Im SE-Bild: 3 nm bei 30 kV und
15 nm bei 1 kV
Gleichzeitige Live-Bilddarstellung mehrerer Detektoren
Einfache Probennavigation durch Cllck-Center-Zoom
Leistungsfähige Funktionen zur Bildvermessung
Movie-Funktion zur Aufnahme dynamischer Prozesse
Vielseitige Probenkammer mit zahlreichen
Erweiterungsmöglichkeiten:freie Flansche z. B. für EDX, WDX,
EBSD, Kathodolumineszenz etc.
Wartungs- und verschleißarmes, leises Pumpsystem
bestehend aus Vorpumpe, vibrationsfreier Hochlelstungsdiffusionspumpe
sowie elektromagnetischer Ventilsteuerung
Umfangreiche Fehlerabsicherung gegen Fehlbedienung
und Ausfall externer Medien
Ergonomischer, höhenverstellbarer Systemtisch
REM-Starterkit bestehend aus 2 Probenhaltern,
Werkzeugsatz sowie 6 Ersatzkathoden
Zusatzausstattunq für Rasterelektronenmikroskop
2x ΜΡ-43100 (TMP)
Turbomolekularpumpe
anstelle der serienmäßigen Diffusionspumpe
Bei Venwendung einer Turbomolekularpumpe wird fUr den
Betrieb des REM kein Kühlwasser mehr benötigt.
Weitere REM-Ausstattung:
PC zur Steuerung des REMs
inkl. TFT Monitor
ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX-System EXTENDED
Stickstofffreies, energiedisperslves Röntgenanalysesystem
inkl.:
SDD-Detektor mit 127 eV oder besserer Energieauflösung
Nachweis aller Elemente ab Bor
Vibrationsfrei, wartungsfrei. Peltier gekühlt (stickstofffrei)
Pulsprozessor
TFT Monitor
Spektrenmessung und Elementldentiflzlerung
Vollautomatische, quantitative, standardfreie
Elementanalyse
Bildeinzug
Superschnelles qualitatives LIneScan
Superschnelles qualitatives Elementmapping
Datenmanagment und -archivierungssystem
Reporterstellung und Ergebnisausgabe
Datenkommunikation
Installation und Einweisung
HyperMap
Multipoint Analyse
Bruker xFlash Detektor (SDD) mit Signalverarbeitungseinheit SVE III
Typ: Jeol JSM-6490
Lieferumfang: (Siehe Fotos)
Zustand: gebraucht / used
(Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!)
Bitte erfragen Sie vor Kauf die Transportmöglichkeiten.
Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.

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Rasterelektronenmikroskope

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