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Jeol

Hier bieten wir Ihnen ein Rasterelektronenmikroskop an.

Das Jeol JSM-6400 ist ein REM, das mit einem energiedispersiven Röntgenanalysator (EDS-System) von Oxford konfiguriert ist.
REM ist eine Methode zur hochauflösenden Abbildung von Oberflächen.
Ein einfallender Elektronenstrahl wird über die Oberfläche der Probe abgetastet und die resultierenden von der Probe emittierten Elektronen
werden von einem Detektor angezogen und gesammelt und in ein Signal umgewandelt.
Die Abbildung in einem REM kann unter Verwendung von Sekundärelektronen erfolgen, um feine topografische Oberflächenmerkmale zu erhalten
oder mit rückgestreuten Elektronen, die einen Kontrast auf der Basis der Ordnungszahl ergeben.
Das EDS-Analysesystem ermöglicht es dem REM, eine Analyse der Zusammensetzung von Proben durchzuführen.

Spezifikationen

Auflösung:
3,5 nm garantiert (35 kV, WD = 8 mm)

Vergrößerung:
x10 (WD = 39 mm) bis 300.000

Bildmodi:
Sekundärelektronenbild (SEI)
Rückgestreutes Elektronenbild (BEI (Zusammensetzung, Topographie))
Elektronenkanalisationsmuster (ECP)

Beschleunigungsspannung:
0,2 bis 5 kV (100-V-Schritte)
5 bis 40 kV (1 kV Schritte)

Sondenstrom:
10-12 bis 10-5 A

Autofokus:
Eingebaut

Auto Stigmator:
Eingebaut

Automatische Kontrast- und Helligkeitsregelung:
Eingebaut

Bedingungsspeicherfunktionen:
Für jeden Bediener oder jede Probe können 10 Sätze der folgenden Parameter ein- und ausgelesen werden
Beschleunigungsspannung/Bias/Sondenstrom / Stigmator / Vergrößerung / Fokus / Bildkontrast und Helligkeit von SEI

Bildverarbeitungssystem
Bildspeicher: 1.024 x 1.024 x 8 Bit x 4 Frames (19 Frames mit optionaler Festplatte)
Pufferspeicher: 512 x 512 x 16 Bit x 2 Frames
Funktionen: Mittelwertbildung, Integration, Pixelakkumulation, 2-Divisions-Anzeige, 4-Divisions-Anzeige,
Histogramm, Bildkonvertierung, Frame-to-Frame-Berechnung

Volle Tastatur
Verschiedene Funktionen können durch Menüauswahl oder Befehlseingabe über die Tastatur ausgeführt werden

Externe Steuerung (Option)
Über die Volltastatur ausführbare Steuerelemente können auch extern über RS-232C ausgeführt werden

Objekttisch
Voll euzentrischer Goniometer-Tisch
Probenbewegungen: X = 50 mm, Y = 70 mm, Z = 40 mm (fein Z = + 2 / -3 mm), T = -5 ° bis + 90 °, R = 360 ° endlos

Installationsvoraussetzungen

Leistung: Einphasig, 50/60 Hz, 240/220/200/180 V AC, 6 kVA
Wasser: 5 l / min. oder mehr
Trockenes Stickstoffgas: Sollte vom Kunden bereitgestellt werden.
Temperatur: 20 +- 5 ° C
Luftfeuchtigkeit: 60% oder weniger
Gewicht ca. 880 kg
Raumgröße: Ca. 2.700 mm x 3.200 mm oder mehr

Betriebssystem

DIPS: Windows 7, EDX: Windows 2000

Typ: JSM-6400

Lieferumfang: (Jeol JSM-6400 mit Zubehör wie abgebildet)

Zustand: gebraucht / used

(Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!)

Bitte erfragen Sie vor Kauf die Transportmöglichkeiten.

Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.

Jeol Rasterelektronenmikroskop REM SEM JSM-6400

Jeol

Hier bieten wir Ihnen ein Rasterelektronenmikroskop an.

Spezifikationen

Auflösung:
3,5 nm garantiert (35 kV, WD = 8 mm)

Vergrößerung:
x10 (WD = 39 mm) bis 300.000

Bildmodi:
Sekundärelektronenbild (SEI)
Rückgestreutes Elektronenbild (BEI (Zusammensetzung, Topographie))
Elektronenkanalisationsmuster (ECP)

Beschleunigungsspannung:
0,2 bis 5 kV (100-V-Schritte)
5 bis 40 kV (1 kV Schritte)

Sondenstrom:
10-12 bis 10-5 A

Autofokus:
Eingebaut

Auto Stigmator:
Eingebaut

Automatische Kontrast- und Helligkeitsregelung:
Eingebaut

Bedingungsspeicherfunktionen:
Für jeden Bediener oder jede Probe können 10 Sätze der folgenden Parameter ein- und ausgelesen werden
Beschleunigungsspannung/Bias/Sondenstrom / Stigmator / Vergrößerung / Fokus / Bildkontrast und Helligkeit von SEI

Volle Tastatur
Verschiedene Funktionen können durch Menüauswahl oder Befehlseingabe über die Tastatur ausgeführt werden

Externe Steuerung (Option)
Über die Volltastatur ausführbare Steuerelemente können auch extern über RS-232C ausgeführt werden

Objekttisch
Voll euzentrischer Goniometer-Tisch
Probenbewegungen: X = 50 mm, Y = 70 mm, Z = 40 mm (fein Z = + 2 / -3 mm), T = -5 ° bis + 90 °, R = 360 ° endlos

Installationsvoraussetzungen

Leistung: Einphasig, 50/60 Hz, 240/220/200/180 V AC, 6 kVA
Wasser: 5 l / min. oder mehr
Trockenes Stickstoffgas: Sollte vom Kunden bereitgestellt werden.
Temperatur: 20 +- 5 ° C
Luftfeuchtigkeit: 60% oder weniger
Gewicht ca. 880 kg
Raumgröße: Ca. 2.700 mm x 3.200 mm oder mehr

Betriebssystem

DIPS: Windows 7, EDX: Windows 2000

Typ: JSM-6400

Lieferumfang: (Jeol JSM-6400 mit Zubehör wie abgebildet)

Zustand: gebraucht / used

(Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!)

Bitte erfragen Sie vor Kauf die Transportmöglichkeiten.

Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.

Rasterelektronenmikroskope

Jeol Rasterelektronenmikroskop REM SEM JSM-6400

Jeol

Hier bieten wir Ihnen ein Rasterelektronenmikroskop an.

Spezifikationen

Auflösung:3,5 nm garantiert (35 kV, WD = 8 mm)

Vergrößerung:x10 (WD = 39 mm) bis 300.000

Bildmodi:Sekundärelektronenbild (SEI)Rückgestreutes Elektronenbild (BEI (Zusammensetzung, Topographie))Elektronenkanalisationsmuster (ECP)

Beschleunigungsspannung:0,2 bis 5 kV (100-V-Schritte)5 bis 40 kV (1 kV Schritte)

Sondenstrom:10-12 bis 10-5 A

Autofokus:Eingebaut

Auto Stigmator:Eingebaut

Automatische Kontrast- und Helligkeitsregelung:Eingebaut

Bedingungsspeicherfunktionen:Für jeden Bediener oder jede Probe können 10 Sätze der folgenden Parameter ein- und ausgelesen werdenBeschleunigungsspannung/Bias/Sondenstrom / Stigmator / Vergrößerung / Fokus / Bildkontrast und Helligkeit von SEI

Volle TastaturVerschiedene Funktionen können durch Menüauswahl oder Befehlseingabe über die Tastatur ausgeführt werden

Externe Steuerung (Option)Über die Volltastatur ausführbare Steuerelemente können auch extern über RS-232C ausgeführt werden

ObjekttischVoll euzentrischer Goniometer-TischProbenbewegungen: X = 50 mm, Y = 70 mm, Z = 40 mm (fein Z = + 2 / -3 mm), T = -5 ° bis + 90 °, R = 360 ° endlos

Installationsvoraussetzungen

Leistung: Einphasig, 50/60 Hz, 240/220/200/180 V AC, 6 kVAWasser: 5 l / min. oder mehrTrockenes Stickstoffgas: Sollte vom Kunden bereitgestellt werden.Temperatur: 20 +- 5 ° CLuftfeuchtigkeit: 60% oder wenigerGewicht ca. 880 kgRaumgröße: Ca. 2.700 mm x 3.200 mm oder mehr

Betriebssystem

DIPS: Windows 7, EDX: Windows 2000

Typ: JSM-6400

Lieferumfang: (Jeol JSM-6400 mit Zubehör wie abgebildet)

Zustand: gebraucht / used

(Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!)

Bitte erfragen Sie vor Kauf die Transportmöglichkeiten. Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.

Rasterelektronenmikroskope

Auflösung:
3,5 nm garantiert (35 kV, WD = 8 mm)

Vergrößerung:
x10 (WD = 39 mm) bis 300.000

Bildmodi:
Sekundärelektronenbild (SEI)
Rückgestreutes Elektronenbild (BEI (Zusammensetzung, Topographie))
Elektronenkanalisationsmuster (ECP)

Beschleunigungsspannung:
0,2 bis 5 kV (100-V-Schritte)
5 bis 40 kV (1 kV Schritte)

Sondenstrom:
10-12 bis 10-5 A

Autofokus:
Eingebaut

Auto Stigmator:
Eingebaut

Automatische Kontrast- und Helligkeitsregelung:
Eingebaut

Bedingungsspeicherfunktionen:
Für jeden Bediener oder jede Probe können 10 Sätze der folgenden Parameter ein- und ausgelesen werden
Beschleunigungsspannung/Bias/Sondenstrom / Stigmator / Vergrößerung / Fokus / Bildkontrast und Helligkeit von SEI

Volle Tastatur
Verschiedene Funktionen können durch Menüauswahl oder Befehlseingabe über die Tastatur ausgeführt werden

Externe Steuerung (Option)
Über die Volltastatur ausführbare Steuerelemente können auch extern über RS-232C ausgeführt werden

Objekttisch
Voll euzentrischer Goniometer-Tisch
Probenbewegungen: X = 50 mm, Y = 70 mm, Z = 40 mm (fein Z = + 2 / -3 mm), T = -5 ° bis + 90 °, R = 360 ° endlos

Leistung: Einphasig, 50/60 Hz, 240/220/200/180 V AC, 6 kVA
Wasser: 5 l / min. oder mehr
Trockenes Stickstoffgas: Sollte vom Kunden bereitgestellt werden.
Temperatur: 20 +- 5 ° C
Luftfeuchtigkeit: 60% oder weniger
Gewicht ca. 880 kg
Raumgröße: Ca. 2.700 mm x 3.200 mm oder mehr

Bitte erfragen Sie vor Kauf die Transportmöglichkeiten.

Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.