J.A. Wolllam Co., Inc., - Spektroskopischer Ellipsometer AccuMap-SE V-15
Art.-ID: 13230
Zustand: Gebraucht
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J.A. Wolllam Co., Inc., - Spektroskopischer Ellipsometer
Hier bieten wir einen J.A. Wolllam Co., Inc., - Spektroskopischer Ellipsometer an.
J.A. Wolllam Co., Inc., - Spektroskopischer Ellipsometer
Charakterisierung von Dünnschicht-Gleichförmigkeit von großen Platten ist jetzt noch einfacher.
Die AccuMap-SE verbindet eine Hochgeschwindigkeits M2000 spektroskopischer Ellipsometrie mit schnellen Zuordnung für große Platten.
Vertrauen gewinnen über Ihre Beschichtungen, die nur genaue spektroskopische Ellipsometriemessungen kann.
Die breiten Spektralbereich des M-2000 eignet sich gut für alle Dünnfilme in Photovoltaik- und Flat Panel Display-Anwendungen.
Komplett System bestehend aus Lichtquelle, Detektoreinheit, Kartierungsplattform und
Computer für Ellipsometrie an Proben mit bis zu 1000 mm x 500 mm Kantenlänge, CE-Kennzeichen vorhanden.
System Daten:
Lichtquelle: M-2000 50W FQTH (370nm – 1690nm)
Anschluss: 200-240VAC, 50/60Hz, 20A (max)
Abmessungen: 2466 B x 594 T x 2000 H
Gewicht: 600 kg
Gerätebeschreibung und Dokumentation in vollem Umfang vorhanden.
Typ: AccuMap-SE V-15
Zustand: gebraucht / used
Lieferumfang: (Siehe Bild)
(Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!)
Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.
Schriftliche Bestellung möglich per Email oder Fax
| Technisches Merkmal | Wert |
|---|---|
| Art.-ID | 13230 |
| Zustand | Gebraucht |
| Modell | Spektroskopischer Ellipsometer AccuMap-SE V-15 |
| Hersteller | J.A. Wolllam Co., Inc. |
| Inhalt | 1 Stück |
| Gewicht | 600000 g |
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